简介：简介：球差校正透射电子显微镜（JEM-ARM300F），球差电镜其最大的优势是具有纳米量级甚至更高的分辨率，利用高性能的透射电子显微镜可以在原子尺度范围内探测物质的结构和化学成份，揭示物质变化的内在显微结构和各种宏观性能之间的关系。目前可以分为两种模式，单球差电镜和双球差电镜。

　　可用于：样品正常要求是：无磁性的一般透射电镜样品，直径小于3mm，薄区厚度不超过100nm的原片，FIB制备的样品也可以，分散在铜网上的粉末样品也可以的等。